"Noile tendinţe şi metode avansate ellipsometrice şi XRD pentru studiul materialelor nanostructurate"

NEW

PHOTO GALLERY

Invitaţie

Dragi colegi si colaboratori,
Vă invitam la Seminarul international "Noile tendinţe şi metode avansate ellipsometrice şi XRD pentru studiul materialelor nanostructurate" care va avea loc la Institutului de Chimie Fizică "Ilie Murgulescu" al Academiei Romane, Bucuresti in perioada 25-26 iunie. Seminarul se adreseaza in particular tinerilor cercetarori interesati de noile tendinte in caracterizarea avansata de materiale nanostructurate si ofera o sectiune de lectii invitate tinute de cercetatori cu experienta si reprezentantii diverselor firme furnizoare de aparatura stiintifica din domeniu. Prezentarile invitate (30 min) vor fi urmate de contributii orale ale participantilor (15min), postere si de lectii practice pe ellipsometrele UV-VIS-NIR si IR si XRD, organizate la Institutului de Chimie Fizica “Ilie Murgulescu” al Academiei Romane, Bucuresti.
Seminarul se doreste a fi un forum de discutii intre expertii in domeniu si tinerii cercetatori oferind posibilitatea de a initia noi colaborari in domeniu.
Pentru ca LOT ORIEL va oferi un premiu de 100 Euro pentru cea mai buna lucrare prezentata de un tinar cercetator (pana la 35 de ani), va rugam ca abstractele sa fie scrise in limba engleza.
Noul termen de trimitere al abstractelor este 15 Mai 2009.Model abstract
Vă rugăm sa trimiteti si un formular de inscriereFormular inscriere.

Participarea la seminar este gratuită

Firme invitate:

J.A.Woollam Co-LOT-ORIEL
Horiba Jobin Yvon
Rigaku-CASON Engineering Plc.


Lista cu participanti

Click pentru a o deschide


Lucrări invitate:

  1. Maria Losurdo - Institute of Inorganic Methodologies and of Plasmas, IMIP-CNR, w/o Dept. of Chemistry - University of Bari, Italy.
  2. "Spectroscopic Ellipsometry - Potenial for Metamaterials", Thomas Wagner, LOT ORIEL, Germany.
  3. "Applications of Spectroscopic Ellipsometry in Nano-Science and Nano-Technology", Roland Seitz, HORIBA Jobin Yvon, Germany.
  4. "Recent applications of nano-materials using Theta-theta & High power X-ray diffractometer", Dr. Paul Ulrich Pennartz, Channel Manager Europe - Rigaku Innovative Technologies, Osmic.
  5. "Optical and microstructural properties of novel p-typed TCOs: theoretical and experimental studies", Mircea Modreanu, Tyndall National Institute-University College Cork, Ireland.
  6. "At the interface nano/bio - biology or technology?", Madalin Enache, Institute of Biology, Center of Microbiology, Bucharest , Romania.
  7. "Evaluation of thin film's density using SE and XRD measurements", Octavian Buiu - LOT ORIEL, Romania.
  8. "Microstructural high resolution X-ray metrology of nanocrystalline materials: Application to FCC metals embedded into a porous silicon matrix", Mihai Dănilă, Irina Kleps, Mihaela Miu, Tedora Ignat, Monica Simion - INCD pentru Microtehnologie IMT Bucuresti.
  9. "Line profile analysis of alite doped with phosphorus solid solutions", Daniela Nastac - CEPROCIM S.A, Romania.


Formular inscriere

Model abstract

Vizita

In data de 27 Iunie 2009 va invitam sa vizitam impreuna castelele Peles si Bran.

Comitetul de organizare

Institutul de Chimie Fizică "Ilie Murgulescu" al Academiei Române
Dr. M.Gartner
Dr. V.Fruth
M. C. .Dr. M.Zaharescu
R. Scurtu
C. Andronescu
Dr. O. Buiu
Dr. M. Modreanu

Asociaţia ALPHA

LOT ORIEL
Dr. T.Wagner
Dr. O.Buiu