2010
"Noile tendinţe şi metode avansate ellipsometrice şi XRD pentru studiul materialelor nanostructurate"

Invitaţie

Avem marea placere de a va invita la a II-a editie a Seminarului international "Noile tendinte si metode avansate ellipsometrice si XRD pentru studiul materialelor nanostructurate" care va avea loc la Institutului de Chimie Fizica Ilie Murgulescu al Academiei Romane, Bucuresti in perioada 16-17 septembrie 2010. Seminarul se adreseaza in particular tinerilor cercetarori interesati de noile tendinte in caracterizare avansata de materiale nanostructurate si ofera o sectiune de tutoriale si lectii invitate tinute de cercetari recunoscuti pe plan mondial. Tutoriale vor fi urmate de contributii orale ale participantilor (15min) si de lectii practice pe ellipsometrele UV-VIS-NIR si infrarosu disponibile in cadrul Institutului de Chimie Fizica Ilie Murgulescu al Academiei Romane, Bucuresti. Seminarul se doreste a fi un forum de discutii intre expertii in domeniu si tinerii cercetatori oferind posibilitatea de a initia noi colaborari in domeniu.
Deadline: Va rugam sa va anuntati intentia de participare, completandFormularul de inregistrare,pana la data de 15 Aprilie 2010.
In functie de numarul participantilor se vor stabili si conditiile de participare care vor fi afisate pe site la 15 Mai 2010.
Dorim ca in continuare participarea la workshop sa fie gratuita si sa orgnizam o excursie in Delta Dunarii.


Firme invitate:

J.A.Woollam Co-LOT-ORIEL
Rigaku-CASON Engineering Plc.


Lista cu participanti



Formular inscriere


Model abstract


Vizita

In data de 18 Septembrie 2010 va invitam sa vizitam impreuna Delta Dunarii.


PHOTO GALLERY 2009


Comitetul de organizare

Institutul de Chimie Fizică Ilie Murgulescu al Academiei Române
Dr. M. Gartner
Dr. V. Fruth
M.C. Dr. M.Zaharescu
C. Penea
C. Andronescu
Dr. R. Scurtu

Lot Oriel
Dr. O. Buiu

Tyndall National Institute, Cork, Ireland
Dr. M. Modreanu

Asociaţia ALPHA